Размер шрифта
Цвет фона и шрифта
Изображения
Озвучивание текста
Обычная версия сайта
Мы обеспечиваем поддержку ваших высокопроизводительных SEM, FIB и TEM систем расходными материалами и запчастями.
Оборудование и запчасти для
электронной микроскопии
+7 (495) 363-52-38
+7 (495) 363-52-38
E-mail
sales@microtechpro.ru
Адрес
142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
О компании
  • О компании
  • Вакансии
  • Реквизиты
Каталог
  • Восстановление (IGP) ионно-геттерные насосов FEI FIB/SEM (Ion Getter Pump)
  • Заправка галлиевых источников ЛМИС
  • Заправка систем впрыска газа (GIS) ФИБ СЭМ FEI, ZEISS, JEOL FIB и Dual Beam
  • Изготовление апертурных планок для FIB SEM (FEI, ZEISS, JEOL)
  • Напыление и восстановление сцинтилляторов
  • НИОКР
    • Восстановление сцинтилляторного световода детектора Эверхарта-Торнли для микроскопов FEI/Philips
    • Заправка галлиевых источников (Gallium LMIS)
    • Заправка систем впрыска газа (GIS) для ФИБ
    • Обновление ФИБ до Плазма ФИБ
    • Производство диафрагм для FIB и SEM
    • Сцинтилляторы восстановление для систем RHEED.
  • Оборудования и расходных материалов для электронной микроскопии каталог
    • Двулучевые электронные микроскопы (SEM/FIB/PFIB)
    • Оборудование для пробоподготовки
    • Просвечивающие электронные микроскопы (TEM/STEM)
    • Расходные материалы для электронной микроскопии
    • Системы для анализа поверхности
    • Сканирующие электронные микроскопы (SEM)
  • Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
    • Восстановление вольфрамовых катодов
    • Восстановление Супрессоров
    • Восстановление Экстракторов
    • Востановление FEG
    • Заправка галлиевых источников ЛМИС
    • Заправка ГИС (GIS) систем впрыска газа ФИБ СЭМ
    • Производство аппертур для FIB/SEM (FEI, ZEISS, Jeol)
  • Сервис
    • Сервис ФИБ СЭМ ТЭМ
  • ФИБ СЭМ ТЭМ системы бывшие в употреблении
    • 5000 VersaProbe II XPS Microprobe (Physical Electronics / PHI)
    • Ambivalue EyeTech
    • Delong Instruments LVEM5
    • EDAX element
    • EDAX Orbis PC Micro-XRF Analyzer
    • FEI Helios 660 Nanolab
    • FEI Inspect F50 FEG
    • FEI QEMSCAN WellSite
    • FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN+GIF
    • FEI Teneo LoVac
    • FEI Versa 3D LoVac Dual beam
Контакты
Новости
НИОКР
Домодедово
Домодедово
142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
+7 (495) 363-52-38
+7 (495) 363-52-38
E-mail
sales@microtechpro.ru
Адрес
142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
Мы обеспечиваем поддержку ваших высокопроизводительных SEM, FIB и TEM систем расходными материалами и запчастями.
Оборудование и запчасти для
электронной микроскопии
О компании
Каталог
Контакты
Новости
НИОКР
    Мы обеспечиваем поддержку ваших высокопроизводительных SEM, FIB и TEM систем расходными материалами и запчастями.
    О компании
    Каталог
    Контакты
    Новости
    НИОКР
      Домодедово
      +7 (495) 363-52-38
      E-mail
      sales@microtechpro.ru
      Адрес
      142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      Мы обеспечиваем поддержку ваших высокопроизводительных SEM, FIB и TEM систем расходными материалами и запчастями.
      Телефоны
      +7 (495) 363-52-38
      E-mail
      sales@microtechpro.ru
      Адрес
      142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      Мы обеспечиваем поддержку ваших высокопроизводительных SEM, FIB и TEM систем расходными материалами и запчастями.
      • О компании
        • О компании
        • О компании
        • Вакансии
        • Реквизиты
      • Каталог
        • Каталог
        • Восстановление (IGP) ионно-геттерные насосов FEI FIB/SEM (Ion Getter Pump)
        • Заправка галлиевых источников ЛМИС
        • Заправка систем впрыска газа (GIS) ФИБ СЭМ FEI, ZEISS, JEOL FIB и Dual Beam
        • Изготовление апертурных планок для FIB SEM (FEI, ZEISS, JEOL)
        • Напыление и восстановление сцинтилляторов
        • НИОКР
          • НИОКР
          • Восстановление сцинтилляторного световода детектора Эверхарта-Торнли для микроскопов FEI/Philips
          • Заправка галлиевых источников (Gallium LMIS)
          • Заправка систем впрыска газа (GIS) для ФИБ
          • Обновление ФИБ до Плазма ФИБ
          • Производство диафрагм для FIB и SEM
          • Сцинтилляторы восстановление для систем RHEED.
        • Оборудования и расходных материалов для электронной микроскопии каталог
          • Оборудования и расходных материалов для электронной микроскопии каталог
          • Двулучевые электронные микроскопы (SEM/FIB/PFIB)
            • Двулучевые электронные микроскопы (SEM/FIB/PFIB)
            • Aquilos Cryo-FIB (Thermo Fisher Scientific)
            • ExSolve WTP DualBeam (Thermo Fisher Scientific)
            • Helios 5 DualBeam FIB (Thermo Fisher Scientific)
            • Helios 5 Hydra DualBeam PFIB (Thermo Fisher Scientific)
            • Helios 5 Plasma FIB DualBeam (Thermo Fisher Scientific)
            • Helios G4 DualBeam (Thermo Fisher Scientific)
            • Scios DualBeam FIB (Thermo Fisher Scientific)
            • V400ACE (Thermo Fisher Scientific)
            • Vion Plasma FIB (Thermo Fisher Scientific)
            • Vion Plasma FIB DualBeam ThermoFisher
          • Оборудование для пробоподготовки
            • Оборудование для пробоподготовки
            • DSCR Установка вакуумного напылениянанесения углеродного покрытия NSC
            • 1020 Plasma Cleaner Fischione - установка плазменной очистки
            • 1051 TEM Mill Fischione - настольная система ионного утонения образцов для ПЭМ
            • 1061 SEM Mill Fischione - настольная система подготовки образцов для CЭМ
            • 1062 TrionMill Fischione - настольная система подготовки образцов для CЭМ
            • 1070 NanoClean Fischione - установка плазменной очистки
            • 1080 PicoMill® TEM Fischione - система пробоподготовки для ПЭМ с ультра-низкоэнергетическим ионным пучком 1080 PicoMill® TEM Fischione - система пробоподготовки для ПЭМ с ультра-низкоэнергетическим ионным пучком
            • 110 Twin-Jet Electropolisher Fischione - система электролитической полировки и химического травления образцов для ПЭМ
            • 120 Fischione – блок автоматического управления питанием для 110 Twin-Jet Electropolisher
            • 130 Fischione – система перфорирования образцов
            • 140 Fischione – цифровой блок управления питанием для 110 Twin-Jet Electropolisher
            • 160 Fischione Устройство механической шлифовки образцов дисковой формы
            • 170 Fischione Устройство ультразвукового перфорирования образцов
            • 200 Fischione Установка для механической шлифовки образцов для ПЭМ
            • 2021 Fischione Держатель образцов для аналитической томографии
            • TJ 100 SE Система электролитической полировки и химического травления CYKY
            • UniMill (IV7) Technoorg Linda Ltd. система ионного утонения
            • Система плазменной очистки HPT-100 TEM Henniker Plasma
            • Установка сушки в критической точке SCD-350M
          • Просвечивающие электронные микроскопы (TEM/STEM)
            • Просвечивающие электронные микроскопы (TEM/STEM)
            • Glacios ™ Cryo - Thermo Scientific
            • Metrios ™ DX TEM Thermo Scientific
            • Talos Arctica Cryo-TEM (Thermo Scientific)
            • Talos F200i (Thermo Fisher Scientific)
            • Talos L120C (Thermo Fisher Scientific)
            • Themis TEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
            • Titan Krios TEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
            • Tundra Cryo-TEM (Thermo Scientific)
          • Расходные материалы для электронной микроскопии
            • Расходные материалы для электронной микроскопии
            • Алмазные Ножи DIATOME
            • Иглы для наноманипуляторов
            • Катоды для электронных микроскопов
            • Контейнеры для хранения образцов
            • Материалы для изготовления реплик
            • Материалы для напыления
            • Сетки для TEM
            • Столики и держатели для крепления образцов
            • Электропроводящие ленты, диски, пасты
          • Системы для анализа поверхности
            • Системы для анализа поверхности
            • NanoTOF II (Physical Electronics / PHI)
            • PHI 710 (Physical Electronics/PHI)
            • Quantes XPS/HAXPES (Physical Electronics / PHI)
            • VersaProbe III (Physical Electronics/PHI)
          • Сканирующие электронные микроскопы (SEM)
            • Сканирующие электронные микроскопы (SEM)
            • Apreo SEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
            • Axia ChemiSEM Thermo Scientific
            • Phenom (Thermo Fisher Scientific)
            • Prisma E SEM Thermo Fisher Scientific
            • Quattro ESEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
            • Verios XHR SEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
            • Volumescope 2 (Thermo Fisher Scientific)
        • Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
          • Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
          • Восстановление вольфрамовых катодов
          • Восстановление Супрессоров
          • Восстановление Экстракторов
          • Востановление FEG
          • Заправка галлиевых источников ЛМИС
          • Заправка ГИС (GIS) систем впрыска газа ФИБ СЭМ
          • Производство аппертур для FIB/SEM (FEI, ZEISS, Jeol)
        • Сервис
          • Сервис
          • Сервис ФИБ СЭМ ТЭМ
        • ФИБ СЭМ ТЭМ системы бывшие в употреблении
          • ФИБ СЭМ ТЭМ системы бывшие в употреблении
          • 5000 VersaProbe II XPS Microprobe (Physical Electronics / PHI)
          • Ambivalue EyeTech
          • Delong Instruments LVEM5
          • EDAX element
          • EDAX Orbis PC Micro-XRF Analyzer
          • FEI Helios 660 Nanolab
          • FEI Inspect F50 FEG
          • FEI QEMSCAN WellSite
          • FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN+GIF
          • FEI Teneo LoVac
          • FEI Versa 3D LoVac Dual beam
      • Контакты
      • Новости
      • НИОКР
      • Домодедово
        • Города
        • Домодедово
      • +7 (495) 363-52-38
        • Телефоны
        • +7 (495) 363-52-38
      • 142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
      • sales@microtechpro.ru
      • Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00

      Заправка ГИС (GIS) систем впрыска газа ФИБ СЭМ

      Главная
      —
      Продукты
      —
      Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
      —Заправка ГИС (GIS) систем впрыска газа ФИБ СЭМ
      Заправка ГИС (GIS) систем впрыска газа ФИБ СЭМ

      Заправка систем впрыска газа (GIS) ФИБ СЭМ FEI, ZEISS, JEOL FIB и Dual Beam

      Оформите заявку на услугу, мы свяжемся с вами в ближайшее время и ответим на все интересующие вопросы.
      Заправка систем впрыска газа (GIS) FEI, ZEISS, JEOL FIB и Dual Beam ФИБ СЭМ Производится Инженерами Микротехпро
      Гарантия аналогична гарантии производителя установка сертифицированными инженерами
      Доступны перезаправленные тигли, готовы к замене по принципу "подключи и работай".
      - Pt
      - IDEP II
      - EE

      Материал для осаждения платины для использования во всех системах FEI, ZEISS, JEOL FIB и FIB / SEM с использованием систем впрыска газа.

      Химическое
      наименование: Триметил (метилцилопентадиенил) платина (IV)
      Формула: C9H16Pt
      CAS-No. 94442-22-5
      Мас. моль. 319,3 г/моль
      Полезная масса 6 грамм
      Упаковка Алюминиевый тигель, стиль может отличаться
      Срок службы (est.) 120 часов или более при температуре тигля 40С
      Назад к списку

      Компания
      О компании
      Вакансии
      Реквизиты
      Вернуться в каталог
      Восстановление (IGP) ионно-геттерные насосов FEI FIB/SEM (Ion Getter Pump)
      Заправка галлиевых источников ЛМИС
      Заправка систем впрыска газа (GIS) ФИБ СЭМ FEI, ZEISS, JEOL FIB и Dual Beam
      Изготовление апертурных планок для FIB SEM (FEI, ZEISS, JEOL)
      Напыление и восстановление сцинтилляторов
      НИОКР
      Оборудования и расходных материалов для электронной микроскопии каталог
      Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
      Сервис
      ФИБ СЭМ ТЭМ системы бывшие в употреблении
      +7 (495) 363-52-38
      +7 (495) 363-52-38
      E-mail
      sales@microtechpro.ru
      Адрес
      142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      sales@microtechpro.ru
      142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
      © 2026 Мы предлагаем широкий набор продуктов и услуг, разработанных для того, чтобы помочь вам поддерживать работоспособность вашего оборудования и повышения его производительности . Мы приглашаем вас ознакомиться с обширным ассортиментом нашей продукции - от восстановления оригинальных запчастей до произведенных нами для прямой замены оригинала , а также услуг по сервисному обслуживанию.
      Политика конфиденциальности
      Разработано в