Настольная система подготовки образцов 1062 SEM Mill Fischione - самая мощная cовременная система ионной шлифовки и полировки с тремя источниками ионов для подготовки высококачественных образцов для сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), позволяющая в кратчайшие сроки подготовить образцы для широкого спектра применений.
Для многих современных материалов анализ в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ, англ. SEM – Secondary Electron Microscope) является идеальным методом для быстрого изучения структуры и свойств материала. 1062 TrionMill Fischione является отличным инструментом для обеспечения характеристик поверхности образца, необходимых для визуализации и анализа методом СЭМ.
Три ионных источника TrionMill обеспечивают крупномасштабное секционирование плоских и поперечных образцов. Работа с высокой энергией позволяет быстро шлифовать большие площади (до 50 мм); низкоэнергетический режим позволяет бережно полировать образец.
1062 Trion Mill поддерживает обработку образцов больших размеров:
Кросс-секционирование*: максимум: 10 х 10 х 4,0 мм / минимум: 3 x 3 x 0,7 мм
*Стандартный размер; другие размеры доступны по запросу.
Образцы для планарной (плоскостной) обработки: Ø50 х 25 мм (высота)
1062 TrionMill Fischione - настольная система подготовки образцов для CЭМ
Оформите заявку на услугу, мы свяжемся с вами в ближайшее
время и ответим на все интересующие вопросы.
