Размер шрифта
Цвет фона и шрифта
Изображения
Озвучивание текста
Обычная версия сайта
Мы обеспечиваем поддержку ваших высокопроизводительных SEM, FIB и TEM систем расходными материалами и запчастями.
Оборудование и запчасти для
электронной микроскопии
+7 (495) 363-52-38
+7 (495) 363-52-38
E-mail
sales@microtechpro.ru
Адрес
142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
О компании
  • О компании
  • Вакансии
  • Реквизиты
Каталог
  • Восстановление (IGP) ионно-геттерные насосов FEI FIB/SEM (Ion Getter Pump)
  • Заправка галлиевых источников ЛМИС
  • Заправка систем впрыска газа (GIS) ФИБ СЭМ FEI, ZEISS, JEOL FIB и Dual Beam
  • Изготовление апертурных планок для FIB SEM (FEI, ZEISS, JEOL)
  • Напыление и восстановление сцинтилляторов
  • НИОКР
    • Восстановление сцинтилляторного световода детектора Эверхарта-Торнли для микроскопов FEI/Philips
    • Заправка галлиевых источников (Gallium LMIS)
    • Заправка систем впрыска газа (GIS) для ФИБ
    • Обновление ФИБ до Плазма ФИБ
    • Производство диафрагм для FIB и SEM
    • Сцинтилляторы восстановление для систем RHEED.
  • Оборудования и расходных материалов для электронной микроскопии каталог
    • Двулучевые электронные микроскопы (SEM/FIB/PFIB)
    • Оборудование для пробоподготовки
    • Просвечивающие электронные микроскопы (TEM/STEM)
    • Расходные материалы для электронной микроскопии
    • Системы для анализа поверхности
    • Сканирующие электронные микроскопы (SEM)
  • Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
    • Восстановление вольфрамовых катодов
    • Восстановление Супрессоров
    • Восстановление Экстракторов
    • Востановление FEG
    • Заправка галлиевых источников ЛМИС
    • Заправка ГИС (GIS) систем впрыска газа ФИБ СЭМ
    • Производство аппертур для FIB/SEM (FEI, ZEISS, Jeol)
  • Сервис
    • Сервис ФИБ СЭМ ТЭМ
  • ФИБ СЭМ ТЭМ системы бывшие в употреблении
    • 5000 VersaProbe II XPS Microprobe (Physical Electronics / PHI)
    • Ambivalue EyeTech
    • Delong Instruments LVEM5
    • EDAX element
    • EDAX Orbis PC Micro-XRF Analyzer
    • FEI Helios 660 Nanolab
    • FEI Inspect F50 FEG
    • FEI QEMSCAN WellSite
    • FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN+GIF
    • FEI Teneo LoVac
    • FEI Versa 3D LoVac Dual beam
Контакты
Новости
НИОКР
Домодедово
Домодедово
142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
+7 (495) 363-52-38
+7 (495) 363-52-38
E-mail
sales@microtechpro.ru
Адрес
142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
Мы обеспечиваем поддержку ваших высокопроизводительных SEM, FIB и TEM систем расходными материалами и запчастями.
Оборудование и запчасти для
электронной микроскопии
О компании
Каталог
Контакты
Новости
НИОКР
    Мы обеспечиваем поддержку ваших высокопроизводительных SEM, FIB и TEM систем расходными материалами и запчастями.
    О компании
    Каталог
    Контакты
    Новости
    НИОКР
      Домодедово
      +7 (495) 363-52-38
      E-mail
      sales@microtechpro.ru
      Адрес
      142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      Мы обеспечиваем поддержку ваших высокопроизводительных SEM, FIB и TEM систем расходными материалами и запчастями.
      Телефоны
      +7 (495) 363-52-38
      E-mail
      sales@microtechpro.ru
      Адрес
      142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      Мы обеспечиваем поддержку ваших высокопроизводительных SEM, FIB и TEM систем расходными материалами и запчастями.
      • О компании
        • О компании
        • О компании
        • Вакансии
        • Реквизиты
      • Каталог
        • Каталог
        • Восстановление (IGP) ионно-геттерные насосов FEI FIB/SEM (Ion Getter Pump)
        • Заправка галлиевых источников ЛМИС
        • Заправка систем впрыска газа (GIS) ФИБ СЭМ FEI, ZEISS, JEOL FIB и Dual Beam
        • Изготовление апертурных планок для FIB SEM (FEI, ZEISS, JEOL)
        • Напыление и восстановление сцинтилляторов
        • НИОКР
          • НИОКР
          • Восстановление сцинтилляторного световода детектора Эверхарта-Торнли для микроскопов FEI/Philips
          • Заправка галлиевых источников (Gallium LMIS)
          • Заправка систем впрыска газа (GIS) для ФИБ
          • Обновление ФИБ до Плазма ФИБ
          • Производство диафрагм для FIB и SEM
          • Сцинтилляторы восстановление для систем RHEED.
        • Оборудования и расходных материалов для электронной микроскопии каталог
          • Оборудования и расходных материалов для электронной микроскопии каталог
          • Двулучевые электронные микроскопы (SEM/FIB/PFIB)
            • Двулучевые электронные микроскопы (SEM/FIB/PFIB)
            • Aquilos Cryo-FIB (Thermo Fisher Scientific)
            • ExSolve WTP DualBeam (Thermo Fisher Scientific)
            • Helios 5 DualBeam FIB (Thermo Fisher Scientific)
            • Helios 5 Hydra DualBeam PFIB (Thermo Fisher Scientific)
            • Helios 5 Plasma FIB DualBeam (Thermo Fisher Scientific)
            • Helios G4 DualBeam (Thermo Fisher Scientific)
            • Scios DualBeam FIB (Thermo Fisher Scientific)
            • V400ACE (Thermo Fisher Scientific)
            • Vion Plasma FIB (Thermo Fisher Scientific)
            • Vion Plasma FIB DualBeam ThermoFisher
          • Оборудование для пробоподготовки
            • Оборудование для пробоподготовки
            • DSCR Установка вакуумного напылениянанесения углеродного покрытия NSC
            • 1020 Plasma Cleaner Fischione - установка плазменной очистки
            • 1051 TEM Mill Fischione - настольная система ионного утонения образцов для ПЭМ
            • 1061 SEM Mill Fischione - настольная система подготовки образцов для CЭМ
            • 1062 TrionMill Fischione - настольная система подготовки образцов для CЭМ
            • 1070 NanoClean Fischione - установка плазменной очистки
            • 1080 PicoMill® TEM Fischione - система пробоподготовки для ПЭМ с ультра-низкоэнергетическим ионным пучком 1080 PicoMill® TEM Fischione - система пробоподготовки для ПЭМ с ультра-низкоэнергетическим ионным пучком
            • 110 Twin-Jet Electropolisher Fischione - система электролитической полировки и химического травления образцов для ПЭМ
            • 120 Fischione – блок автоматического управления питанием для 110 Twin-Jet Electropolisher
            • 130 Fischione – система перфорирования образцов
            • 140 Fischione – цифровой блок управления питанием для 110 Twin-Jet Electropolisher
            • 160 Fischione Устройство механической шлифовки образцов дисковой формы
            • 170 Fischione Устройство ультразвукового перфорирования образцов
            • 200 Fischione Установка для механической шлифовки образцов для ПЭМ
            • 2021 Fischione Держатель образцов для аналитической томографии
            • TJ 100 SE Система электролитической полировки и химического травления CYKY
            • UniMill (IV7) Technoorg Linda Ltd. система ионного утонения
            • Система плазменной очистки HPT-100 TEM Henniker Plasma
            • Установка сушки в критической точке SCD-350M
          • Просвечивающие электронные микроскопы (TEM/STEM)
            • Просвечивающие электронные микроскопы (TEM/STEM)
            • Glacios ™ Cryo - Thermo Scientific
            • Metrios ™ DX TEM Thermo Scientific
            • Talos Arctica Cryo-TEM (Thermo Scientific)
            • Talos F200i (Thermo Fisher Scientific)
            • Talos L120C (Thermo Fisher Scientific)
            • Themis TEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
            • Titan Krios TEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
            • Tundra Cryo-TEM (Thermo Scientific)
          • Расходные материалы для электронной микроскопии
            • Расходные материалы для электронной микроскопии
            • Алмазные Ножи DIATOME
            • Иглы для наноманипуляторов
            • Катоды для электронных микроскопов
            • Контейнеры для хранения образцов
            • Материалы для изготовления реплик
            • Материалы для напыления
            • Сетки для TEM
            • Столики и держатели для крепления образцов
            • Электропроводящие ленты, диски, пасты
          • Системы для анализа поверхности
            • Системы для анализа поверхности
            • NanoTOF II (Physical Electronics / PHI)
            • PHI 710 (Physical Electronics/PHI)
            • Quantes XPS/HAXPES (Physical Electronics / PHI)
            • VersaProbe III (Physical Electronics/PHI)
          • Сканирующие электронные микроскопы (SEM)
            • Сканирующие электронные микроскопы (SEM)
            • Apreo SEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
            • Axia ChemiSEM Thermo Scientific
            • Phenom (Thermo Fisher Scientific)
            • Prisma E SEM Thermo Fisher Scientific
            • Quattro ESEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
            • Verios XHR SEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
            • Volumescope 2 (Thermo Fisher Scientific)
        • Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
          • Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
          • Восстановление вольфрамовых катодов
          • Восстановление Супрессоров
          • Восстановление Экстракторов
          • Востановление FEG
          • Заправка галлиевых источников ЛМИС
          • Заправка ГИС (GIS) систем впрыска газа ФИБ СЭМ
          • Производство аппертур для FIB/SEM (FEI, ZEISS, Jeol)
        • Сервис
          • Сервис
          • Сервис ФИБ СЭМ ТЭМ
        • ФИБ СЭМ ТЭМ системы бывшие в употреблении
          • ФИБ СЭМ ТЭМ системы бывшие в употреблении
          • 5000 VersaProbe II XPS Microprobe (Physical Electronics / PHI)
          • Ambivalue EyeTech
          • Delong Instruments LVEM5
          • EDAX element
          • EDAX Orbis PC Micro-XRF Analyzer
          • FEI Helios 660 Nanolab
          • FEI Inspect F50 FEG
          • FEI QEMSCAN WellSite
          • FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN+GIF
          • FEI Teneo LoVac
          • FEI Versa 3D LoVac Dual beam
      • Контакты
      • Новости
      • НИОКР
      • Домодедово
        • Города
        • Домодедово
      • +7 (495) 363-52-38
        • Телефоны
        • +7 (495) 363-52-38
      • 142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
      • sales@microtechpro.ru
      • Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00

      Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ

      Главная
      —
      Продукты
      —Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
      Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
      Заправка галлиевых источников ЛМИС
      Для ФИБ СЭМ FEI, ZEISS, JEOL FIB и Dual Beam  HITACHI  Мы используем изотопно чистый, галлий для заправки источников ионов жидкого металла 69Ga (LMIS)
      Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
      Производство аппертур для FIB/SEM (FEI, ZEISS, Jeol)
      Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
      Восстановление Экстракторов
      Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
      Восстановление Супрессоров
      Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
      Заправка ГИС (GIS) систем впрыска газа ФИБ СЭМ
      Заправка систем впрыска газа (GIS) ФИБ СЭМ FEI, ZEISS, JEOL FIB и Dual Beam
      Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
      Восстановление вольфрамовых катодов
      Восстановление вольфрамовых катодов Jeol, Hitachi, FEI, Yxlon, Hamamatsu, GE.
      Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
      Востановление FEG
      Восстановление катодов Шоттки для FEI SEM
      • Восстановление (IGP) ионно-геттерные насосов FEI FIB/SEM (Ion Getter Pump)
      • Заправка галлиевых источников ЛМИС
      • Заправка систем впрыска газа (GIS) ФИБ СЭМ FEI, ZEISS, JEOL FIB и Dual Beam
      • Изготовление апертурных планок для FIB SEM (FEI, ZEISS, JEOL)
      • Напыление и восстановление сцинтилляторов
      • НИОКР
        • Восстановление сцинтилляторного световода детектора Эверхарта-Торнли для микроскопов FEI/Philips
        • Заправка галлиевых источников (Gallium LMIS)
        • Заправка систем впрыска газа (GIS) для ФИБ
        • Обновление ФИБ до Плазма ФИБ
        • Производство диафрагм для FIB и SEM
        • Сцинтилляторы восстановление для систем RHEED.
      • Оборудования и расходных материалов для электронной микроскопии каталог
        • Двулучевые электронные микроскопы (SEM/FIB/PFIB)
          • Aquilos Cryo-FIB (Thermo Fisher Scientific)
          • ExSolve WTP DualBeam (Thermo Fisher Scientific)
          • Helios 5 DualBeam FIB (Thermo Fisher Scientific)
          • Helios 5 Hydra DualBeam PFIB (Thermo Fisher Scientific)
          • Helios 5 Plasma FIB DualBeam (Thermo Fisher Scientific)
          • Helios G4 DualBeam (Thermo Fisher Scientific)
          • Scios DualBeam FIB (Thermo Fisher Scientific)
          • V400ACE (Thermo Fisher Scientific)
          • Vion Plasma FIB (Thermo Fisher Scientific)
          • Vion Plasma FIB DualBeam ThermoFisher
        • Оборудование для пробоподготовки
          • DSCR Установка вакуумного напылениянанесения углеродного покрытия NSC
          • 1020 Plasma Cleaner Fischione - установка плазменной очистки
          • 1051 TEM Mill Fischione - настольная система ионного утонения образцов для ПЭМ
          • 1061 SEM Mill Fischione - настольная система подготовки образцов для CЭМ
          • 1062 TrionMill Fischione - настольная система подготовки образцов для CЭМ
          • 1070 NanoClean Fischione - установка плазменной очистки
          • 1080 PicoMill® TEM Fischione - система пробоподготовки для ПЭМ с ультра-низкоэнергетическим ионным пучком 1080 PicoMill® TEM Fischione - система пробоподготовки для ПЭМ с ультра-низкоэнергетическим ионным пучком
          • 110 Twin-Jet Electropolisher Fischione - система электролитической полировки и химического травления образцов для ПЭМ
          • 120 Fischione – блок автоматического управления питанием для 110 Twin-Jet Electropolisher
          • 130 Fischione – система перфорирования образцов
          • 140 Fischione – цифровой блок управления питанием для 110 Twin-Jet Electropolisher
          • 160 Fischione Устройство механической шлифовки образцов дисковой формы
          • 170 Fischione Устройство ультразвукового перфорирования образцов
          • 200 Fischione Установка для механической шлифовки образцов для ПЭМ
          • 2021 Fischione Держатель образцов для аналитической томографии
          • TJ 100 SE Система электролитической полировки и химического травления CYKY
          • UniMill (IV7) Technoorg Linda Ltd. система ионного утонения
          • Система плазменной очистки HPT-100 TEM Henniker Plasma
          • Установка сушки в критической точке SCD-350M
        • Просвечивающие электронные микроскопы (TEM/STEM)
          • Glacios ™ Cryo - Thermo Scientific
          • Metrios ™ DX TEM Thermo Scientific
          • Talos Arctica Cryo-TEM (Thermo Scientific)
          • Talos F200i (Thermo Fisher Scientific)
          • Talos L120C (Thermo Fisher Scientific)
          • Themis TEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
          • Titan Krios TEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
          • Tundra Cryo-TEM (Thermo Scientific)
        • Расходные материалы для электронной микроскопии
          • Алмазные Ножи DIATOME
            • DU4515, DiATOME Ultra 45deg Diamond Knife 1.5mm NEW
            • DU4520, DiATOME Ultra 45deg Diamond Knife 2.0mm NEW
            • DU4530, NEW DiATOME Ultra 45deg Diamond Knife 3.0mm
            • DU4535, NEW DiATOME Ultra 45deg Diamond Knife 3.5mm
            • DU4540, NEW DiATOME Ultra 45deg Diamond Knife 4.0mm
            • RDU4515, Resharpened DiATOME Ultra 45deg Diamond Knife 1.5mm
            • RDU4520, Resharpened DiATOME Ultra 45deg Diamond Knife 2.0mm
            • RDU4525, Resharpened DiATOME Ultra 45deg Diamond Knife 2.5mm
            • RDU4530, Resharpened DiATOME Ultra 45deg Diamond Knife 3.0mm
            • RDU4535, Resharpened DiATOME Ultra 45deg Diamond Knife 3.5mm
            • RDU4540, Resharpened DiATOME Ultra 45deg Diamond Knife 4.0mm
          • Иглы для наноманипуляторов
            • Стандартные вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe AutoProbe 100 и 200
          • Катоды для электронных микроскопов
            • Катоды LaB6 для TEM Tescan, ZEISS серии DSM, TEM, LEO TEM и LEO 1400
            • Катод Шоттки (полевой) YPS-174
            • Катод Шоттки Denka TFE 174C
            • Катоды AEI, для SEM ZEISS EVO, LEO, Leica, CamScan, Cambridge Instruments и Philips XL-30
            • Катоды JEOL K-типа с металлическим кольцом
            • Катоды LaB6 Hitachi S-типа, для Hitachi S-, SU-, H- и X-серий SEM и TEM
            • Катоды LaB6 для SEM AMRAY, FEI/Philips, FEI TEM/SEM, Philips EM200 TEM и PSEM 500
            • Катоды для FEI-Philips
            • Катоды для Hitachi S-типа
            • Катоды для ZEISS DSM/ZEISS TEM и LEO 400/1400 и LEO TEM
            • Катоды для ZEISS EVO, Cambridge-Leica и LEO. RS-EBS-VS-AE-N-10
            • Катоды Шоттки YPS-M20 для электронных микроскопов KYKY EM8000
          • Контейнеры для хранения образцов
            • PELCO® контейнер для хранения 50 TEM сеточек
            • Антистатический бокс для хранения ламелей (на 100 позиций)
            • Контейнер для хранения 100 TEM сеточек
            • Контейнер для хранения 50 TEM сеточек
            • Контейнер для хранения стандартных столиков на 14 позиций
            • Контейнер для хранения стандартных столиков на 18 позиций
            • Контейнер для хранения стандартных столиков на 4 позиции
            • Контейнер для хранения стандартных столиков на 8 позиций
            • Контейнеры-колбочки для хранения стандартных столиков, 10 шт./уп.
            • Мембранный бокс для переноски образцов, 38 мм (ширина) х 38 мм (глубина) х 16 мм (высота), 12 шт./уп.
          • Материалы для изготовления реплик
            • Тонкая репликационная лента из ацетата целлюлозы, толщина 22 мкм, 38 мм × 4.5 м
          • Материалы для напыления
            • Катушка углеродного шнура, 100 м
            • Катушка углеродной нити, 100 м
            • Кристалл для измерителя толщины напыления, 1 шт.
          • Сетки для TEM
            • Медные полусетки Omniprobe с 4-мя выступами для закрепления ламелей 100 шт./уп.
            • Медные сетки с несимметричными метками на ободе и в центре, 600 mesh, 100 шт./уп.
            • Медные сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
            • Медные сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
            • Медные сетки, 200 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
            • Медные сетки, 200 mesh, углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт./уп.
            • Медные сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
            • Медные сетки, 300 mesh, Lacey углерод/формвар, 25 шт./уп.
            • Медные сетки, 300 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
            • Медные сетки, 300 mesh, формвар/углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт/упак
            • Медные сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
            • Медные сетки, 400 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
            • Медные сетки, 400 mesh, формвар/углеродное покрытие 3 нм, 25 шт./уп.
            • Медные сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
            • Медные сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
            • Медные сетки, 75 mesh, формвар+углерод, 50 шт./уп.,
            • Никелевые сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
            • Никелевые сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
            • Никелевые сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
            • Никелевые сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
            • Никелевые сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
            • Никелевые сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
          • Столики и держатели для крепления образцов
            • Алюминиевый стенд на 40 столиков диаметром 12.7 мм
            • Стандартные столики, диаметром 12,7 мм. 100шт/упак
            • Стандартные столики, диаметром 25.4 мм, 100 шт./уп.
          • Электропроводящие ленты, диски, пасты
            • Двусторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 12 мм, 100 шт./уп.
            • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 25 мм, 54 шт./уп.
            • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 6 мм, 112 шт./уп.
            • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 9 мм, 98 шт./уп.
            • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски повышенной чистоты диаметром 12 мм, 120 шт./уп.
            • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 12 мм
            • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 20 мм
            • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 8 мм
            • Двухсторонняя электропроводящая медная лента, 12.7 мм × 16.4 м
            • Углеродные проводящие листы, 50 мм × 120 мм, толщина 0.16 мм, 10 шт./уп.
        • Системы для анализа поверхности
          • NanoTOF II (Physical Electronics / PHI)
          • PHI 710 (Physical Electronics/PHI)
          • Quantes XPS/HAXPES (Physical Electronics / PHI)
          • VersaProbe III (Physical Electronics/PHI)
        • Сканирующие электронные микроскопы (SEM)
          • Apreo SEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
          • Axia ChemiSEM Thermo Scientific
          • Phenom (Thermo Fisher Scientific)
          • Prisma E SEM Thermo Fisher Scientific
          • Quattro ESEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
          • Verios XHR SEM FEI (Thermo Fisher Scientific)
          • Volumescope 2 (Thermo Fisher Scientific)
      • Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
        • Восстановление вольфрамовых катодов
        • Восстановление Супрессоров
        • Восстановление Экстракторов
        • Востановление FEG
        • Заправка галлиевых источников ЛМИС
        • Заправка ГИС (GIS) систем впрыска газа ФИБ СЭМ
        • Производство аппертур для FIB/SEM (FEI, ZEISS, Jeol)
      • Сервис
        • Сервис ФИБ СЭМ ТЭМ
      • ФИБ СЭМ ТЭМ системы бывшие в употреблении
        • 5000 VersaProbe II XPS Microprobe (Physical Electronics / PHI)
        • Ambivalue EyeTech
        • Delong Instruments LVEM5
        • EDAX element
        • EDAX Orbis PC Micro-XRF Analyzer
        • FEI Helios 660 Nanolab
        • FEI Inspect F50 FEG
        • FEI QEMSCAN WellSite
        • FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN+GIF
        • FEI Teneo LoVac
        • FEI Versa 3D LoVac Dual beam
      Компания
      О компании
      Вакансии
      Реквизиты
      Вернуться в каталог
      Восстановление (IGP) ионно-геттерные насосов FEI FIB/SEM (Ion Getter Pump)
      Заправка галлиевых источников ЛМИС
      Заправка систем впрыска газа (GIS) ФИБ СЭМ FEI, ZEISS, JEOL FIB и Dual Beam
      Изготовление апертурных планок для FIB SEM (FEI, ZEISS, JEOL)
      Напыление и восстановление сцинтилляторов
      НИОКР
      Оборудования и расходных материалов для электронной микроскопии каталог
      Производство и восстановление запчастей ФИБ СЭМ
      Сервис
      ФИБ СЭМ ТЭМ системы бывшие в употреблении
      +7 (495) 363-52-38
      +7 (495) 363-52-38
      E-mail
      sales@microtechpro.ru
      Адрес
      142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      sales@microtechpro.ru
      142000, Московская обл., г. Домодедово, Лунная ул. (западный мкр.), д. 1, помещ. XXXVIII
      © 2026 Мы предлагаем широкий набор продуктов и услуг, разработанных для того, чтобы помочь вам поддерживать работоспособность вашего оборудования и повышения его производительности . Мы приглашаем вас ознакомиться с обширным ассортиментом нашей продукции - от восстановления оригинальных запчастей до произведенных нами для прямой замены оригинала , а также услуг по сервисному обслуживанию.
      Политика конфиденциальности
      Разработано в